Quelle  iio-test-gts.c   Sprache: C

// SPDX-License-Identifier: GPL-2.0-only
/* Unit tests for IIO light sensor gain-time-scale helpers
 *
 * Copyright (c) 2023 Matti Vaittinen <mazziesaccount@gmail.com>
 */

#include <kunit/device.h>
#include <kunit/test.h>
#include <linux/device.h>
#include <linux/iio/iio-gts-helper.h>
#include <linux/iio/types.h>

/*
 * Please, read the "rant" from the top of the lib/test_linear_ranges.c if
 * you see a line of helper code which is not being tested.
 *
 * Then, please look at the line which is not being tested. Is this line
 * somehow unusually complex? If answer is "no", then chances are that the
 * "development inertia" caused by adding a test exceeds the benefits.
 *
 * If yes, then adding a test is probably a good idea but please stop for a
 * moment and consider the effort of changing all the tests when code gets
 * refactored. Eventually it neeeds to be.
 */

#define TEST_TSEL_50  1
#define TEST_TSEL_X_MIN  TEST_TSEL_50
#define TEST_TSEL_100  0
#define TEST_TSEL_200  2
#define TEST_TSEL_400  4
#define TEST_TSEL_X_MAX  TEST_TSEL_400

#define TEST_GSEL_1  0x00
#define TEST_GSEL_X_MIN  TEST_GSEL_1
#define TEST_GSEL_4  0x08
#define TEST_GSEL_16  0x0a
#define TEST_GSEL_32  0x0b
#define TEST_GSEL_64  0x0c
#define TEST_GSEL_256  0x18
#define TEST_GSEL_512  0x19
#define TEST_GSEL_1024  0x1a
#define TEST_GSEL_2048  0x1b
#define TEST_GSEL_4096  0x1c
#define TEST_GSEL_X_MAX  TEST_GSEL_4096

#define TEST_SCALE_1X  64
#define TEST_SCALE_MIN_X TEST_SCALE_1X
#define TEST_SCALE_2X  32
#define TEST_SCALE_4X  16
#define TEST_SCALE_8X  8
#define TEST_SCALE_16X  4
#define TEST_SCALE_32X  2
#define TEST_SCALE_64X  1

#define TEST_SCALE_NANO_128X 500000000
#define TEST_SCALE_NANO_256X 250000000
#define TEST_SCALE_NANO_512X 125000000
#define TEST_SCALE_NANO_1024X 62500000
#define TEST_SCALE_NANO_2048X 31250000
#define TEST_SCALE_NANO_4096X 15625000
#define TEST_SCALE_NANO_4096X2 7812500
#define TEST_SCALE_NANO_4096X4 3906250
#define TEST_SCALE_NANO_4096X8 1953125

#define TEST_SCALE_NANO_MAX_X TEST_SCALE_NANO_4096X8

/*
 * Can't have this allocated from stack because the kunit clean-up will
 * happen only after the test function has already gone
 */
static struct iio_gts gts;

/* Keep the gain and time tables unsorted to test the sorting */
static const struct iio_gain_sel_pair gts_test_gains[] = {
 GAIN_SCALE_GAIN(1, TEST_GSEL_1),
 GAIN_SCALE_GAIN(4, TEST_GSEL_4),
 GAIN_SCALE_GAIN(16, TEST_GSEL_16),
 GAIN_SCALE_GAIN(32, TEST_GSEL_32),
 GAIN_SCALE_GAIN(64, TEST_GSEL_64),
 GAIN_SCALE_GAIN(256, TEST_GSEL_256),
 GAIN_SCALE_GAIN(512, TEST_GSEL_512),
 GAIN_SCALE_GAIN(1024, TEST_GSEL_1024),
 GAIN_SCALE_GAIN(4096, TEST_GSEL_4096),
 GAIN_SCALE_GAIN(2048, TEST_GSEL_2048),
#define HWGAIN_MAX 4096
};

static const struct iio_itime_sel_mul gts_test_itimes[] = {
 GAIN_SCALE_ITIME_US(100 * 1000, TEST_TSEL_100, 2),
 GAIN_SCALE_ITIME_US(400 * 1000, TEST_TSEL_400, 8),
 GAIN_SCALE_ITIME_US(400 * 1000, TEST_TSEL_400, 8),
 GAIN_SCALE_ITIME_US(50 * 1000, TEST_TSEL_50, 1),
 GAIN_SCALE_ITIME_US(200 * 1000, TEST_TSEL_200, 4),
#define TIMEGAIN_MAX 8
};
#define TOTAL_GAIN_MAX (HWGAIN_MAX * TIMEGAIN_MAX)
#define IIO_GTS_TEST_DEV "iio-gts-test-dev"

static struct device *__test_init_iio_gain_scale(struct kunit *test,
  struct iio_gts *gts, const struct iio_gain_sel_pair *g_table,
  int num_g, const struct iio_itime_sel_mul *i_table, int num_i)
{
 struct device *dev;
 int ret;

 dev = kunit_device_register(test, IIO_GTS_TEST_DEV);

 KUNIT_EXPECT_NOT_ERR_OR_NULL(test, dev);
 if (IS_ERR_OR_NULL(dev))
  return NULL;

 ret = devm_iio_init_iio_gts(dev, TEST_SCALE_1X, 0, g_table, num_g,
        i_table, num_i, gts);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 0, ret);
 if (ret)
  return NULL;

 return dev;
}

#define test_init_iio_gain_scale(test, gts) \
 __test_init_iio_gain_scale(test, gts, gts_test_gains, \
       ARRAY_SIZE(gts_test_gains), gts_test_itimes, \
       ARRAY_SIZE(gts_test_itimes))

static void test_init_iio_gts_invalid(struct kunit *test)
{
 struct device *dev;
 int ret;
 const struct iio_itime_sel_mul itimes_neg[] = {
  GAIN_SCALE_ITIME_US(-10, TEST_TSEL_400, 8),
  GAIN_SCALE_ITIME_US(200 * 1000, TEST_TSEL_200, 4),
 };
 const struct iio_gain_sel_pair gains_neg[] = {
  GAIN_SCALE_GAIN(1, TEST_GSEL_1),
  GAIN_SCALE_GAIN(2, TEST_GSEL_4),
  GAIN_SCALE_GAIN(-2, TEST_GSEL_16),
 };
 /* 55555 * 38656 = 2147534080 => overflows 32bit int */
 const struct iio_itime_sel_mul itimes_overflow[] = {
  GAIN_SCALE_ITIME_US(400 * 1000, TEST_TSEL_400, 55555),
  GAIN_SCALE_ITIME_US(200 * 1000, TEST_TSEL_200, 4),
 };
 const struct iio_gain_sel_pair gains_overflow[] = {
  GAIN_SCALE_GAIN(1, TEST_GSEL_1),
  GAIN_SCALE_GAIN(2, TEST_GSEL_4),
  GAIN_SCALE_GAIN(38656, TEST_GSEL_16),
 };

 dev = kunit_device_register(test, IIO_GTS_TEST_DEV);
 KUNIT_EXPECT_NOT_ERR_OR_NULL(test, dev);
 if (!dev)
  return;

 /* Ok gains, negative time */
 ret = devm_iio_init_iio_gts(dev, TEST_SCALE_1X, 0, gts_test_gains,
        ARRAY_SIZE(gts_test_gains), itimes_neg,
        ARRAY_SIZE(itimes_neg), >s);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, -EINVAL, ret);

 /* Ok times, negative gain */
 ret = devm_iio_init_iio_gts(dev, TEST_SCALE_1X, 0, gains_neg,
        ARRAY_SIZE(gains_neg), gts_test_itimes,
        ARRAY_SIZE(gts_test_itimes), >s);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, -EINVAL, ret);

 /* gain * time overflow int */
 ret = devm_iio_init_iio_gts(dev, TEST_SCALE_1X, 0, gains_overflow,
        ARRAY_SIZE(gains_overflow), itimes_overflow,
        ARRAY_SIZE(itimes_overflow), >s);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, -EOVERFLOW, ret);
}

static void test_iio_gts_find_gain_for_scale_using_time(struct kunit *test)
{
 struct device *dev;
 int ret, gain_sel;

 dev = test_init_iio_gain_scale(test, >s);
 if (!dev)
  return;

 ret = iio_gts_find_gain_sel_for_scale_using_time(>s, TEST_TSEL_100,
      TEST_SCALE_8X, 0, &gain_sel);
 /*
 * Meas time 100 => gain by time 2x
 * TEST_SCALE_8X matches total gain 8x
 * => required HWGAIN 4x
 */
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 0, ret);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, TEST_GSEL_4, gain_sel);

 ret = iio_gts_find_gain_sel_for_scale_using_time(>s, TEST_TSEL_200, 0,
      TEST_SCALE_NANO_256X, &gain_sel);
 /*
 * Meas time 200 => gain by time 4x
 * TEST_SCALE_256X matches total gain 256x
 * => required HWGAIN 256/4 => 64x
 */
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 0, ret);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, TEST_GSEL_64, gain_sel);

 /* Min time, Min gain */
 ret = iio_gts_find_gain_sel_for_scale_using_time(>s, TEST_TSEL_X_MIN,
      TEST_SCALE_MIN_X, 0, &gain_sel);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 0, ret);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, TEST_GSEL_1, gain_sel);

 /* Max time, Max gain */
 ret = iio_gts_find_gain_sel_for_scale_using_time(>s, TEST_TSEL_X_MAX,
     0, TEST_SCALE_NANO_MAX_X, &gain_sel);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 0, ret);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, TEST_GSEL_4096, gain_sel);

 ret = iio_gts_find_gain_sel_for_scale_using_time(>s, TEST_TSEL_100, 0,
      TEST_SCALE_NANO_256X, &gain_sel);
 /*
 * Meas time 100 => gain by time 2x
 * TEST_SCALE_256X matches total gain 256x
 * => required HWGAIN 256/2 => 128x (not in gain-table - unsupported)
 */
 KUNIT_EXPECT_NE(test, 0, ret);

 ret = iio_gts_find_gain_sel_for_scale_using_time(>s, TEST_TSEL_200, 0,
      TEST_SCALE_NANO_MAX_X, &gain_sel);
 /* We can't reach the max gain with integration time smaller than MAX */
 KUNIT_EXPECT_NE(test, 0, ret);

 ret = iio_gts_find_gain_sel_for_scale_using_time(>s, TEST_TSEL_50, 0,
      TEST_SCALE_NANO_MAX_X, &gain_sel);
 /* We can't reach the max gain with integration time smaller than MAX */
 KUNIT_EXPECT_NE(test, 0, ret);
}

static void test_iio_gts_find_new_gain_sel_by_old_gain_time(struct kunit *test)
{
 struct device *dev;
 int ret, old_gain, new_gain, old_time_sel, new_time_sel;

 dev = test_init_iio_gain_scale(test, >s);
 if (!dev)
  return;

 old_gain = 32;
 old_time_sel = TEST_TSEL_200;
 new_time_sel = TEST_TSEL_400;

 ret = iio_gts_find_new_gain_sel_by_old_gain_time(>s, old_gain,
     old_time_sel, new_time_sel, &new_gain);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 0, ret);
 /*
 * Doubling the integration time doubles the total gain - so old
 * (hw)gain must be divided by two to compensate. => 32 / 2 => 16
 */
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 16, new_gain);

 old_gain = 4;
 old_time_sel = TEST_TSEL_50;
 new_time_sel = TEST_TSEL_200;
 ret = iio_gts_find_new_gain_sel_by_old_gain_time(>s, old_gain,
     old_time_sel, new_time_sel, &new_gain);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 0, ret);
 /*
 * gain by time 1x => 4x - (hw)gain 4x => 1x
 */
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 1, new_gain);

 old_gain = 512;
 old_time_sel = TEST_TSEL_400;
 new_time_sel = TEST_TSEL_50;
 ret = iio_gts_find_new_gain_sel_by_old_gain_time(>s, old_gain,
     old_time_sel, new_time_sel, &new_gain);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 0, ret);
 /*
 * gain by time 8x => 1x - (hw)gain 512x => 4096x)
 */
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 4096, new_gain);

 /* Unsupported gain 2x */
 old_gain = 4;
 old_time_sel = TEST_TSEL_200;
 new_time_sel = TEST_TSEL_400;
 ret = iio_gts_find_new_gain_sel_by_old_gain_time(>s, old_gain,
     old_time_sel, new_time_sel, &new_gain);
 KUNIT_EXPECT_NE(test, 0, ret);

 /* Too small gain */
 old_gain = 4;
 old_time_sel = TEST_TSEL_50;
 new_time_sel = TEST_TSEL_400;
 ret = iio_gts_find_new_gain_sel_by_old_gain_time(>s, old_gain,
     old_time_sel, new_time_sel, &new_gain);
 KUNIT_EXPECT_NE(test, 0, ret);

 /* Too big gain */
 old_gain = 1024;
 old_time_sel = TEST_TSEL_400;
 new_time_sel = TEST_TSEL_50;
 ret = iio_gts_find_new_gain_sel_by_old_gain_time(>s, old_gain,
     old_time_sel, new_time_sel, &new_gain);
 KUNIT_EXPECT_NE(test, 0, ret);

}

static void test_iio_find_closest_gain_low(struct kunit *test)
{
 struct device *dev;
 bool in_range;
 int ret;

 const struct iio_gain_sel_pair gts_test_gains_gain_low[] = {
  GAIN_SCALE_GAIN(4, TEST_GSEL_4),
  GAIN_SCALE_GAIN(16, TEST_GSEL_16),
  GAIN_SCALE_GAIN(32, TEST_GSEL_32),
 };

 dev = test_init_iio_gain_scale(test, >s);
 if (!dev)
  return;

 ret = iio_find_closest_gain_low(>s, 2, &in_range);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 1, ret);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, true, in_range);

 ret = iio_find_closest_gain_low(>s, 1, &in_range);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 1, ret);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, true, in_range);

 ret = iio_find_closest_gain_low(>s, 4095, &in_range);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 2048, ret);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, true, in_range);

 ret = iio_find_closest_gain_low(>s, 4097, &in_range);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 4096, ret);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, false, in_range);

 kunit_device_unregister(test, dev);

 dev = __test_init_iio_gain_scale(test, >s, gts_test_gains_gain_low,
    ARRAY_SIZE(gts_test_gains_gain_low),
    gts_test_itimes, ARRAY_SIZE(gts_test_itimes));
 if (!dev)
  return;

 ret = iio_find_closest_gain_low(>s, 3, &in_range);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, -EINVAL, ret);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, false, in_range);
}

static void test_iio_gts_total_gain_to_scale(struct kunit *test)
{
 struct device *dev;
 int ret, scale_int, scale_nano;

 dev = test_init_iio_gain_scale(test, >s);
 if (!dev)
  return;

 ret = iio_gts_total_gain_to_scale(>s, 1, &scale_int, &scale_nano);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 0, ret);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, TEST_SCALE_1X, scale_int);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 0, scale_nano);

 ret = iio_gts_total_gain_to_scale(>s, 1, &scale_int, &scale_nano);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 0, ret);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, TEST_SCALE_1X, scale_int);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 0, scale_nano);

 ret = iio_gts_total_gain_to_scale(>s, 4096 * 8, &scale_int,
       &scale_nano);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 0, ret);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 0, scale_int);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, TEST_SCALE_NANO_4096X8, scale_nano);
}

static void test_iio_gts_chk_times(struct kunit *test, const int *vals)
{
 static const int expected[] = {0, 50000, 0, 100000, 0, 200000, 0, 400000};
 int i;

 for (i = 0; i < ARRAY_SIZE(expected); i++)
  KUNIT_EXPECT_EQ(test, expected[i], vals[i]);
}

static void test_iio_gts_chk_scales_all(struct kunit *test, struct iio_gts *gts,
     const int *vals, int len)
{
 static const int gains[] = {1, 2, 4, 8, 16, 32, 64, 128, 256, 512,
        1024, 2048, 4096, 4096 * 2, 4096 * 4,
        4096 * 8};
 int expected[ARRAY_SIZE(gains) * 2];
 int i, ret;
 int exp_len = ARRAY_SIZE(gains) * 2;

 KUNIT_EXPECT_EQ(test, exp_len, len);
 if (len != exp_len)
  return;

 for (i = 0; i < ARRAY_SIZE(gains); i++) {
  ret = iio_gts_total_gain_to_scale(gts, gains[i],
        &expected[2 * i],
        &expected[2 * i + 1]);
  KUNIT_EXPECT_EQ(test, 0, ret);
  if (ret)
   return;
 }

 for (i = 0; i < ARRAY_SIZE(expected); i++)
  KUNIT_EXPECT_EQ(test, expected[i], vals[i]);
}

static void test_iio_gts_chk_scales_t200(struct kunit *test, struct iio_gts *gts,
      const int *vals, int len)
{
 /* The gain caused by time 200 is 4x */
 static const int gains[] = {
  1 * 4,
  4 * 4,
  16 * 4,
  32 * 4,
  64 * 4,
  256 * 4,
  512 * 4,
  1024 * 4,
  2048 * 4,
  4096 * 4
 };
 int expected[ARRAY_SIZE(gains) * 2];
 int i, ret;

 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 2 * ARRAY_SIZE(gains), len);
 if (len < 2 * ARRAY_SIZE(gains))
  return;

 for (i = 0; i < ARRAY_SIZE(gains); i++) {
  ret = iio_gts_total_gain_to_scale(gts, gains[i],
        &expected[2 * i],
        &expected[2 * i + 1]);
  KUNIT_EXPECT_EQ(test, 0, ret);
  if (ret)
   return;
 }

 for (i = 0; i < ARRAY_SIZE(expected); i++)
  KUNIT_EXPECT_EQ(test, expected[i], vals[i]);
}

static void test_iio_gts_avail_test(struct kunit *test)
{
 struct device *dev;
 int ret;
 int type, len;
 const int *vals;

 dev = test_init_iio_gain_scale(test, >s);
 if (!dev)
  return;

 /* test table building for times and iio_gts_avail_times() */
 ret = iio_gts_avail_times(>s, &vals, &type, &len);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, IIO_AVAIL_LIST, ret);
 if (ret)
  return;

 KUNIT_EXPECT_EQ(test, IIO_VAL_INT_PLUS_MICRO, type);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, 8, len);
 if (len < 8)
  return;

 test_iio_gts_chk_times(test, vals);

 /* Test table building for all scales and iio_gts_all_avail_scales() */
 ret = iio_gts_all_avail_scales(>s, &vals, &type, &len);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, IIO_AVAIL_LIST, ret);
 if (ret)
  return;

 KUNIT_EXPECT_EQ(test, IIO_VAL_INT_PLUS_NANO, type);

 test_iio_gts_chk_scales_all(test, >s, vals, len);

 /*
 * Test table building for scales/time and
 * iio_gts_avail_scales_for_time()
 */
 ret = iio_gts_avail_scales_for_time(>s, 200000, &vals, &type, &len);
 KUNIT_EXPECT_EQ(test, IIO_AVAIL_LIST, ret);
 if (ret)
  return;

 KUNIT_EXPECT_EQ(test, IIO_VAL_INT_PLUS_NANO, type);
 test_iio_gts_chk_scales_t200(test, >s, vals, len);
}

static struct kunit_case iio_gts_test_cases[] = {
 KUNIT_CASE(test_init_iio_gts_invalid),
 KUNIT_CASE(test_iio_gts_find_gain_for_scale_using_time),
 KUNIT_CASE(test_iio_gts_find_new_gain_sel_by_old_gain_time),
 KUNIT_CASE(test_iio_find_closest_gain_low),
 KUNIT_CASE(test_iio_gts_total_gain_to_scale),
 KUNIT_CASE(test_iio_gts_avail_test),
 { }
};

static struct kunit_suite iio_gts_test_suite = {
 .name = "iio-gain-time-scale",
 .test_cases = iio_gts_test_cases,
};

kunit_test_suite(iio_gts_test_suite);

MODULE_LICENSE("GPL");
MODULE_AUTHOR("Matti Vaittinen ");
MODULE_DESCRIPTION("Test IIO light sensor gain-time-scale helpers");
MODULE_IMPORT_NS("IIO_GTS_HELPER");