Quellcodebibliothek Statistik Leitseite products/sources/formale Sprachen/C/Linux/arch/sparc/include/asm/   (Open Source Betriebssystem Version 6.17.9©)  Datei vom 24.10.2025 mit Größe 2 kB image not shown  

Quelle  estate.h   Sprache: C

 
/* SPDX-License-Identifier: GPL-2.0 */
#ifndef _SPARC64_ESTATE_H
#define _SPARC64_ESTATE_H

/* UltraSPARC-III E-cache Error Enable */
#define ESTATE_ERROR_FMT 0x0000000000040000 /* Force MTAG ECC */
#define ESTATE_ERROR_FMESS 0x000000000003c000 /* Forced MTAG ECC val */
#define ESTATE_ERROR_FMD 0x0000000000002000 /* Force DATA ECC */
#define ESTATE_ERROR_FDECC 0x0000000000001ff0 /* Forced DATA ECC val */
#define ESTATE_ERROR_UCEEN 0x0000000000000008 /* See below */
#define ESTATE_ERROR_NCEEN 0x0000000000000002 /* See below */
#define ESTATE_ERROR_CEEN 0x0000000000000001 /* See below */

/* UCEEN enables the fast_ECC_error trap for: 1) software correctable E-cache
 * errors 2) uncorrectable E-cache errors.  Such events only occur on reads
 * of the E-cache by the local processor for: 1) data loads 2) instruction
 * fetches 3) atomic operations.  Such events _cannot_ occur for: 1) merge
 * 2) writeback 2) copyout.  The AFSR bits associated with these traps are
 * UCC and UCU.
 */


/* NCEEN enables instruction_access_error, data_access_error, and ECC_error traps
 * for uncorrectable ECC errors and system errors.
 *
 * Uncorrectable system bus data error or MTAG ECC error, system bus TimeOUT,
 * or system bus BusERR:
 * 1) As the result of an instruction fetch, will generate instruction_access_error
 * 2) As the result of a load etc. will generate data_access_error.
 * 3) As the result of store merge completion, writeback, or copyout will
 *    generate a disrupting ECC_error trap.
 * 4) As the result of such errors on instruction vector fetch can generate any
 *    of the 3 trap types.
 *
 * The AFSR bits associated with these traps are EMU, EDU, WDU, CPU, IVU, UE,
 * BERR, and TO.
 */


/* CEEN enables the ECC_error trap for hardware corrected ECC errors.  System bus
 * reads resulting in a hardware corrected data or MTAG ECC error will generate an
 * ECC_error disrupting trap with this bit enabled.
 *
 * This same trap will also be generated when a hardware corrected ECC error results
 * during store merge, writeback, and copyout operations.
 */


/* In general, if the trap enable bits above are disabled the AFSR bits will still
 * log the events even though the trap will not be generated by the processor.
 */


#endif /* _SPARC64_ESTATE_H */

Messung V0.5
C=96 H=81 G=88

¤ Dauer der Verarbeitung: 0.10 Sekunden  (vorverarbeitet)  ¤

*© Formatika GbR, Deutschland






Wurzel

Suchen

Beweissystem der NASA

Beweissystem Isabelle

NIST Cobol Testsuite

Cephes Mathematical Library

Wiener Entwicklungsmethode

Haftungshinweis

Die Informationen auf dieser Webseite wurden nach bestem Wissen sorgfältig zusammengestellt. Es wird jedoch weder Vollständigkeit, noch Richtigkeit, noch Qualität der bereit gestellten Informationen zugesichert.

Bemerkung:

Die farbliche Syntaxdarstellung und die Messung sind noch experimentell.